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        材料表征设备

        • 扫描开尔文探针
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        扫描开尔文探针

        扫描开尔文探针
        扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。

        主要特点:
        ● 功函分辨率< 3meV
        ● 扫描面积:5mm to 300mm(四种型号,每种型号扫描面积不同)
        ● 扫描分辨率:317.5nm
        ● 自动高度调节
        应用领域:
        ● 有机和非有机半导体
        ● 金属
        ● 薄膜
        ● 太阳能电池和有机光伏材料
        ● 腐蚀
        升级附件:
        ● 大气光子发射系统
        ● 表面光电压(QTH or LED)
        ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
        ● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm
        ● 相对湿度控制和氮气环境箱
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